Одним из основных методов измерения величины удельного и поверхностного электрического сопротивления при исследовании характеристик полупроводниковых материалов и тонких проводящих плёнок является четырёхзондовый метод — Four Point Probe Resistivity Measurement Method. Для реализации метода используются специальные измерительные головки с четырьмя зондами, которые контактирую с поверхностью образца.
Этот раздел сайта содержит информацию о поставляемых приборах и принадлежностях для измерения удельного и поверхностного сопротивления проводников и полупроводников. Если Вас интересуют приборы для измерения удельного объёмного и поверхностного сопротивления диэлектриков, перейдите по ссылке.
Приборы четырёхзондового измерения
Портативный четырёхзондовый измеритель JG M-3
Измеряемое удельное сопротивление: 10 мОм·см – 20 кОм·см
Измеряемое поверхностное сопротивление: 50 мОм/☐ – 100 кОм/☐
Установка четырёхзондового измерения JG ST2258C
Измеряемое удельное сопротивление: 10 мкОм·см – 200 кОм·см
Измеряемое поверхностное сопротивление: 50 мкОм/☐ – 1 МОм/☐
Установка четырёхзондового измерения JG ST2253
Измеряемое удельное сопротивление: 10 мкОм·см – 200 кОм·см
Измеряемое поверхностное сопротивление: 50 мкОм/☐ – 1 МОм/☐
Возможность подключения к ПК
Измерительные зондовые головки
Четырёхзондовая головка JG ST2253-F01
Материал зондов: карбид вольфрама
Межзондовое расстояние: 1,0 мм
Четырёхзондовая головка JG ST2558B-F01
Материал зондов: сплав медь-фосфор с золотым покрытием
Межзондовое расстояние: 2,0 мм
Принадлежности
Стойка-держатель JG SZT-C
Размер предметного стола: 195 × 170 мм
Макс. высота образцов: 25 мм
Калибровочная пластина JG SRM-F1.0-10.0K
Номиналы сопротивлений: 1 Ом, 10 Ом, 100 Ом, 1 кОм, 10 кОм