Одним из основных методов измерения величины удельного и поверхностного электрического сопротивления при исследовании характеристик полупроводниковых материалов и тонких проводящих плёнок является четырёхзондовый метод — Four Point Probe Resistivity Measurement Method. Для реализации метода используются специальные измерительные головки с четырьмя зондами, которые контактирую с поверхностью образца.

Этот раздел сайта содержит информацию о поставляемых приборах и принадлежностях для измерения удельного и поверхностного сопротивления проводников и полупроводников. Если Вас интересуют приборы для измерения удельного объёмного и поверхностного сопротивления диэлектриков, перейдите по ссылке.

Приборы четырёхзондового измерения

Установка четырёхзондового измерения JG ST2258C
Диапазон измерения: 10 мкОм – 200 кОм

Установка четырёхзондового измерения JG ST2253
Диапазон измерения: 10 мкОм – 200 кОм
Подключение к ПК

Установка четырёхзондового измерения JG ST2263
Диапазон измерения: 10 мкОм – 200 кОм
Двухконтурный метод измерения
Подключение к ПК

Портативный четырёхзондовый измеритель JG M-3
Диапазон измерения: 10 мОм – 50 кОм

 
 

Измерительные зондовые головки

Четырёхзондовая головка JG ST2253-F01
Материал зондов: карбид вольфрама
Межзондовое расстояние: 1,0 мм

Четырёхзондовая головка JG ST2558B-F01
Материал зондов: сплав медь-фосфор с золотым покрытием
Межзондовое расстояние: 2,0 мм

Принадлежности

Стойка-держатель JG SZT-C
Макс. размер образцов: 180 × 180 мм
Макс. высота образцов: ≤100 мм

Калибровочная пластина JG SRM-F1.0-10.0K
Диапазон проверки: 1 Ом – 10 кОм